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纳米扫描探针显微镜

简要描述：纳米扫描探针显微镜可以在不破坏样品内部结构的情况下观测样品微区三维形貌和多相结构（纳米级别）；同时可对样品表面物理化学特性进行研究，数值测定与分析。

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详细介绍

纳米扫描探针显微镜工作模式：

1. 标准工作模式：

1.1 轻敲模式(Vibration mode)

1.2 接触模式(Contact mode)

1.3 相位成像模式(Phase imaging)

1.4 横向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5 力曲线测试（Force curve）可测杨氏模量

1.6 纳米操控（Nanomanipulation）

1.7 纳米刻蚀（Nanolithography）

1.8 力矩阵模式（Force Mapping）

1.9 摩擦力测试（Friction Mode）

2. 可选工作模式：

2.1 磁力显微镜模式（MFM mode）

2.2 静电力显微镜模式（EFM mode）

2.3 导电显微镜模式（C-AFM mode）

2.4 液相模式（Liquid scan mode）

AFMWorkshop是专门从事设计和制造原子力显微镜的专业化公司。公司创始人是有30年原子力显微镜经验的 Paul West博士，原子力显微镜教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

纳米扫描探针显微镜技术参数

扫描范围：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范围：17 μm，7 μm

XY方向驱动分辨率：0.01 nm

Z方向驱动分辨率：0.003 nm

Z方向测量噪音水平：0.15 nm

样品尺寸：直径25mm

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