多功能原子力显微镜是一种具有高分辨率的表面分析仪器，能够提供物质表面微观结构的三维图像。与传统的光学显微镜或电子显微镜不同，AFM不依赖任何形式的光学或电子成像，而是通过探针与样品之间的物理作用力来获取表面信息。
AFM使用一个微小的探针（通常由硅或氮化硅制成，尖非常尖锐），在样品表面进行扫描。探针固定在柔性的悬臂上，当探针尖与样品表面相互作用时，悬臂会发生微小的弯曲。通过激光束照射悬臂并检测其反射光的位置变化，可以精确地测量悬臂的弯曲程度，从而推算出探针与样品之间的相互作用力。通过控制探针在样品表面的扫描，可以获得样品表面的形貌图像。
1.高分辨率：AFM能够在纳米甚至亚纳米级别提供表面细节图像。
2.多模式操作：除了标准的拓扑成像外，还可以进行力学、磁力、电学等多种性质的测量。
3.样品适应性广：适用于导体、绝缘体、生物材料等多种类型的样品。
4.环境适应性强：可以在空气、液体乃至真空环境中工作。
5.非破坏性：由于探针与样品之间的作用力非常弱，通常不会对样品造成损害。
6.定量分析：可以直接测量表面的粗糙度、颗粒大小、膜厚等参数。
多功能原子力显微镜的应用领域：
1.材料科学：研究材料的微观结构和性质，如薄膜、纳米颗粒等。
2.生物医学：观察生物大分子如蛋白质、DNA的结构，以及细胞表面的特性。
3.微电子学：检测半导体器件和集成电路的表面缺陷和特性。
4.纳米技术：用于纳米尺度的制造和表征。
5.数据存储：分析磁存储介质的表面磁畴结构。
QQ：
邮箱：xusan@hzglp.com
传真：
地址：杭州市滨江区江南大道3778号元天科技大厦A6004室
